高电压绝缘测试技术中微弱电荷的测量

放大字体  缩小字体 发布日期:2017-07-03 来源:中国知网 作者:邱毓昌, 张乔根, 王 琦 浏览次数:231
近20 年来微弱电荷的测量已成为高电压绝缘领域的一个研究热点。由于微弱电荷传感器的设计比较困难, 有些情况下微弱电荷的测量到目前为止还没有得到很好的解决。对固体介质内部空间电荷、介质分界面处表面电荷及气体介质内部空间预放电电荷的测量技术进行综述。
传统的高电压试验及测试技术以高电压的产生及测量为主要研究对象。多年来对聚合物绝缘子及各种气体绝缘特性的研究基本局限于伏安特性、复介电常数、伏秒特性等宏观方面。由于这些试验结果对于研究介质的绝缘特性所提供的信息不完整,还不能直接用于分析介质内部及介质交界面处的微观介电现象。
研究表明在外施电压的作用下绝缘介质内部及表面会出现空间电荷及表面电荷[ 1] 。而一般电气设备的绝缘是按Laplace 场设计的, 并未考虑电荷对原有Laplace 场的畸变。由于这部分电荷是导致运行中的电气设备异常放电的一个因素, 因此对于绝缘系统中微弱电荷的测量, 近年来成为高电压绝缘测试领域中一个令人瞩目的研究方向。由于在该领域, 微弱电荷的测量属于无损测量的范畴, 这就给测量带来了极大的困难。而且对于不同的研究对象, 电荷传感器的设计及应用有着非常大的区别。
本文着重讨论固体介质内部空间电荷、绝缘子表面电荷、气体介质内部预放电电荷的测量原理及技术。
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高电压绝缘测试技术中微弱电荷的测量_汪沨.pdf

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